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        涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

        涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

        簡要描述:
        涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

        技術參數
        顯示屏
        液晶屏+OLED耐低溫屏
        主機尺寸
        100* 60* 24mm
        重量(含電池)
        80g

        產品時間:2023-06-16

        訪問量:906

        廠商性質:生產廠家

        生產地址:

        品牌其他品牌

        涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

        技術參數
        顯示屏
        液晶屏+OLED耐低溫屏
        主機尺寸
        100* 60* 24mm
        重量(含電池)
        80g

        涂層測厚儀/漆膜儀 型號:JK770-LS236

        測頭
        紅寶石
        測量原理
        Fe:霍爾效應/NFe:電渦流效應
        探頭類型
        內置-體式
        測量范圍
        0.0um - 2000μm
        0.1μm: (0um-99.9μm)
        分辨率
        1μm: (100μm- 999μm)
        0.01mm: (1.00mm-2.00mm)
        測量精度
        ≤土(39%讀數+2μm)
        單位.
        μm/ mil
        測量間隔
        0.5S
        小測量區域
        0=25mm
        小曲率半徑
        凸面: 5mm/凹面: 25mm
        小基體厚度
        Fe: 0.2mm/NFe: 0.05mm
        供電方式
        2節1.5V AAA堿性電池
        工作溫度范圍
        -20°C~50°C
        -40°C~50°C
        儲存溫度范圍
        -20°C~60°C
        -50°C~60°C


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