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        實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

        實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

        簡要描述:
        實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

        技術(shù)參數(shù)
        測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
        基本誤差≤±2.5%FS
        重復性誤差≤±0.5%FS
        短期漂|移(30分鐘) : ≤±0.5%FS

        產(chǎn)品時間:2024-08-29

        訪問量:876

        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

        生產(chǎn)地址:

        品牌其他品牌

        實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

        技術(shù)參數(shù)
        測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
        基本誤差≤±2.5%FS
        重復性誤差≤±0.5%FS
        短期漂|移(30分鐘) : ≤±0.5%FS
        長|期|漂|移(24小時) : ≤±2.5%FS
        化學方法 :硅鉬蘭光度法GB 12150—89


        實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

        技術(shù)參數(shù)
        測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
        基本誤差≤±2.5%FS
        重復性誤差≤±0.5%FS
        短期漂|移(30分鐘) : ≤±0.5%FS
        長|期|漂|移(24小時) : ≤±2.5%FS
        化學方法 :硅鉬蘭光度法GB 12150—89


        實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C

        技術(shù)參數(shù)
        測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
        基本誤差≤±2.5%FS
        重復性誤差≤±0.5%FS
        短期漂|移(30分鐘) : ≤±0.5%FS
        長|期|漂|移(24小時) : ≤±2.5%FS
        化學方法 :硅鉬蘭光度法GB 12150—89


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